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X-Cite®光功率測量系統(tǒng)包括X-Cite®XR2100功率計和X-Cite®XP750物體平面功率傳感器。是為測量樣本的光功率而設計的，X-Cite®XP750 外形小巧別致，專門設計用于顯微鏡載物臺；既包括正置顯微鏡也包括倒置顯微鏡，具有多種功能，可以對 X-Cite® 照明器或其他任何落射熒光燈光源的輸出進行測量，這些光源包括 HBO/汞、金屬鹵化物燈、氙燈、激光器和發(fā)光二極管等。對于一系列廣泛的應用和顯微鏡配置，XP750 都能高效地發(fā)揮作用，其功率敏感度級別為 5µW 到 500mW，波長為 320nm 到 750nm。通過全新的 XR2100 和 XP750，研究人員便可以測量樣本的光功率，從而在整個實驗過程中提供一致且可重復的照明。這款產品遠比標準的功率計好得多，因為它能夠出色配合載玻片插板并將光傳感器放置在物體焦平面上。

XR2100 采用控制鍵接口，可將功率測量結果輕松儲存到自身的單元，或者通過計算機直接下載到可以導出的數(shù)據(jù)文件。由于研究人員可以方便地從臺式計算機管理設置和數(shù)據(jù)，因此能夠同時維護可以導出的數(shù)據(jù)文件和成像數(shù)據(jù)，從而提供符合良好實驗室規(guī)范的完整實驗記錄。借助全新的 X-Cite® XR2100 和 XP750，研究人員即可通過簡明直觀、功能強大的測量系統(tǒng)在整個研究實驗中實現(xiàn)出色的可重復性和效率。