NanoMap-O三維非接觸光學(xué)表面輪廓儀                                         

我們的高分辨掃描白光干涉儀是一個最精確、易于使用的光學(xué)計(jì)量學(xué)系統(tǒng)。NanoMap-O系列光學(xué)輪廓儀廣泛地用于表征各種表面參數(shù)，像表面粗糙、尺度、臺階高度、薄膜厚度等。所有的測量都是快的非接觸的。

結(jié)合高質(zhì)量的激光器、透鏡、低機(jī)器噪聲和技術(shù)，它能夠完成二百多萬像素的圖像，具有0.001nm的分辨率。數(shù)據(jù)分析SPIP軟件是工業(yè)上最有用的軟件，廣大用戶能夠做各種應(yīng)用的表面分析。

特征

▪ 非接觸基的技術(shù)

▪ 多余二百萬像素的圖像

▪ 0.001nm的分辨率

▪ Z軸范圍從nm到50mm

▪ XY掃描范圍達(dá)到150x150mm

▪ 超高分辨率數(shù)字成像傳感器同工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)比較，傳遞13倍的數(shù)據(jù)

▪ LED光源壽命多于15年

應(yīng)用

▪ 臺階高度測量

▪ 表面粗糙測量

▪ 定量的抓和挖的特征，呈現(xiàn)深度、寬度和體積

▪ 平面或曲率的測量

▪ 二維薄膜應(yīng)力測量

▪ 薄膜厚度

▪ 表面輪廓- 缺陷、形貌等