我們的先進(jìn)的針尖基接觸三維表面輪廓儀NanoMap-LS是傳統(tǒng)的接觸式表面輪廓儀和掃描探針顯微鏡(SPM) 完美的的結(jié)合，允許產(chǎn)生掃描區(qū)高分辨的二維及三維圖像(Z軸范圍從nm到1mm)。

它產(chǎn)生詳細(xì)的三維和二維圖像達(dá)到150x150mm掃描面積。它利用優(yōu)越的可重復(fù)性、超低力允許它測(cè)量任何種類材料的表面形貌。廣泛地用于科研和生產(chǎn)環(huán)境。數(shù)據(jù)分析SPIP軟件是工業(yè)上最有用的軟件，廣大用戶能夠做各種應(yīng)用的表面分析。單方面說(shuō)，NanoMap-500LS類似于AFM，但有非常大的掃描面積，擁有更多的用途。

特征,

▪ 壓力尖掃描

▪ 產(chǎn)生三維和二維圖像

▪ Z軸范圍nm到1mm

▪ XY掃描范圍達(dá)到150x150mm

▪ 簡(jiǎn)單的兩種關(guān)鍵操作，用戶友好的軟件界面

▪ 集成的彩色光學(xué)相機(jī)，在掃描過(guò)程中可直接評(píng)論樣品。

應(yīng)用

▪ 臺(tái)階高度測(cè)量

▪ 表面粗糙測(cè)量

▪ 定量的抓和挖的特征，呈現(xiàn)深度、寬度和體積

▪ 平面或曲率的測(cè)量

▪ 二維薄膜應(yīng)力測(cè)量

▪ 薄膜厚度

▪ 表面輪廓- 缺陷、形貌等